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C#完整实现基于瞬态热阻抗（Zth）曲线的动态热阻计算，核心是通过器件手册中的Zth离散数据（时间-热阻抗），结合实时功率/壳温数据，精准计算功率循环过程中任意时刻的动态热阻（适配IGBT/MOSFET等功率器件的瞬态热分析场景）。

以下是工业级可直接复用的完整实现，包含Zth曲线封装、线性插值、卷积积分离散化（动态热阻核心）、功率循环模拟测试，所有代码可直接编译运行。

一、核心原理回顾

动态热阻计算的核心是瞬态结温推导 + 热阻换算：

1. 瞬态结温：Tj(t)=Tc(t)+∑k=0nP(tk)×[Zth(t−tk)−Zth(t−tk−1)]T_j(t) = T_c(t) + \sum_{k=0}^n P(t_k) \times [Z_{th}(t-t_k) - Z_{th}(t-t_{k-1})]T