算放大倍数,最绕不开的一个动作就是把小信号等效电路画出来,然后在漏极节点列 KCL。以前我也这么干,列完式子心里还是不踏实:是不是少并联了一个电阻,符号是不是反了。后来把思路简化成两步:先找跨导 gm,再找输出端看进去的总阻抗 Rout,增益就等于 gm × Rout。用熟了之后,这个公式真的可以当大杀器用,不管手算、看论文、还是对着仿真结果反推电路结构,速度都快不少。
下面只讲怎么把这套方法用稳:gm 和 ro 怎么理解,Rout 怎么找,共源、共源共栅、源极退化这些常见结构怎么套,最后列几个最容易翻车的地方。
1. 这套方法解决的是低频小信号增益问题
1.1 什么时候可以放心套 Av = gm × Rout
这个公式不是所有电路都能直接套。它的成立前提是:放大器在小信号工作点附近,输入电压变化先转换成输出电流变化,输出电流再流过输出端的等效电阻,变成输出电压变化。最典型的适用对象是共源放大器、共射放大器、共源共栅放大器、带源极退化的共源放大器,以及差分放大器做半边等效之后的那半边电路。
具体来说,满足下面几个条件时,可以放心用:
- 只讨论低频小信号,不涉及电容、电感对增益的频响影响。
- 输入管工作在饱和区(MOS)或放大区(BJT),不能接近截止或深线性区。
- 输入从栅极或基极进,输出从漏极或集电极取。
- 输出摆幅足够小,不会造成工作点大幅移动。
有两类电路要额外小心:共漏极也就是源极跟随器,输出从源极取,源极本身带负反馈,不能直接写成 gm × Rout,要用带 gmb 和源极负载的表达式;共栅极输入阻抗低,输入源内阻会分压,公式也要换。这篇文章先聚焦最常见的共源类结构,把这些吃透后再扩展会更顺。
1.2 它不是“约等于”,而是 KCL 的压缩写法
有人以为 gm × Rout 是一个粗糙的近似,只在忽略 ro 或者负载是理想恒流源的时候才成立。实际上不是这样。
拿最简单的电阻负载共源放大器举例。输入管的小信号模型里有一个受控电流源 gm × Vgs,输出节点上并联了负载电阻 RD 和管子自身的输出电阻 ro。在漏极节点列 KCL,把受控源、ro、RD 三条支路的电流写出来,整理之后结果就是:
Vout / Vin = -gm × (RD // ro)
这个式子的右半部分,正好就是输入管的跨导乘以输出端看到的总阻抗。所以 gm × Rout 不是省掉了 KCL,而是把 KCL 的结果压缩成了两步物理理解:先看电压怎么变成电流,再看电流怎么变成电压。
理解这一点很重要。以后再遇到复杂结构,第一反应不是“这个结构能不能套公式”,而是“这个输入管的 gm 在哪,输出端的等效总阻抗是多少”。只要这两个答案清晰,增益式子基本就写出来了。
1.3 为什么它比直接列方程快
列 KCL 的问题在于,节点越多,符号越容易抄错。尤其是带 cascode 或者源极退化时,方程里会有好几个受控源相互嵌套。用 gm × Rout 的思路,可以把“找跨导”和“找输出阻抗”拆成两个独立问题分别验证。哪个环节不确定,就单独针对那个环节做一次小信号分析。
实际做题或看电路时,我一般会先手算出增益,再决定要不要展开完整小信号模型校验。多数情况下,展开完发现结果和 gm × Rout 一模一样,却多花了一倍时间。
2. 先把两个物理量搞清楚:跨导和输出阻抗
2.1 跨导是输入电压对输出电流的转换能力
跨导的定义是输出电流对输入电压的偏导数。MOS 管写作 gm = ∂ID / ∂VGS,BJT 写作 gm = ∂IC / ∂VBE。
教科书里常见的表达式是:
- MOS 饱和区:
gm = 2 * ID / (VGS - VTH),也可以写成gm = sqrt(2 * μCox * (W/L) * ID)。 - BJT 放大区:
gm = IC / VT,其中 VT 在室温下大约 26 mV。
理解这个参数,关键是记住它的物理含义:栅极电压变 1 mV,漏极电流变多少微安。gm 越大,说明输入电压控制输出电流的能力越强,增益潜力越大。
实际手算时,不要一上来就背公式。先确认偏置电流 ID 或 IC,再看模型参数里的 μCox、VTH、W/L,最后算出 gm 的量级。默认情况下,gm 通常落在 mS 级别,也就是 1e-3 这个量级,和它相乘的阻抗是 kΩ 级别,两者相乘就是几十到几百倍的电压增益。
有一个点容易被忽略:同样电流下,过驱动电压 VGS - VTH 越小,gm 越大。这也是很多设计喜欢把管子偏置在稍弱反型区的原因之一。但过驱动电压太小,管子对阈值电压波动更敏感,工作点稳定性会变差。所以 gm 不是越大越好,要看电路的鲁棒性。
2.2 ro 是沟道长度调制和 Early 效应换来的“电阻”
MOS 晶体管的输出电阻 ro,本质上是沟道长度调制效应的体现:VDS 变化时,漏极电流不是完全平坦,而是略微上翘,等效成漏源之间有一个有限电阻。BJT 里对应的是 Early 效应,写作 ro = VA / IC,VA 就是 Early 电压。
MOS 管的常见表达式是:
ro = 1 / (λ * ID)
λ 是沟道长度调制系数,和工艺、器件长度有关。工艺越先进、沟道越短,λ 通常越大,ro 越小。所以短沟道器件的本征增益 gm × ro 经常不如长沟道器件高。
这里有一个很实用的仿真习惯:打开 SPICE 或 Spectre 的直流工作点,输出列表里的 gds 就是漏源导纳,ro 直接取 1 / gds。我平时不怎么背 ro 的绝对值,而是看 gm 和 gds 两个数,心算一遍 gm / gds,再和 AC 仿真结果对比。如果对不上,说明要么偏置状态不对,要么输出端漏掉了负载支路。
2.3 为什么是“输出端看进去的总阻抗”
输出节点通常不止接一个电阻。以恒流源负载共源放大器为例,NMOS 输入管的漏极和 PMOS 负载管的漏极是同一个节点。NMOS 的 ro 从漏极到源极,源极交流接地,所以 ro1 是输出节点到地的一条支路;PMOS 的 ro2 从漏极到源极,源极接 VDD,交流下 VDD 也是地,所以 ro2 是另一条并联支路。两条支路都是“输出节点到交流地”,所以它们是并联关系。
如果输出节点还接了下一级输入电阻或外部负载电阻,也要并进来。最终的总阻抗是所有这些支路的并联结果。这个理解是整套方法里最容易出错的一环,也是下面要详细展开的部分。
3. 找 Rout 的操作流程:从输出节点往地看
3.1 三步找到输出端总阻抗
找输出端总阻抗有一套固定的操作,建议每次都按顺序走一遍。
第一步,把输入小信号源置零。电压源短路到交流地,电流源开路。直流偏置保持不变,管子仍然工作在原来的工作点,但小信号等效模型里,输入端不再有激励。
第二步,在输出节点和地之间加一个测试电压 Vx,计算流入输出节点的电流 Ix。也可以反过来加测试电流,测量节点电压。
第三步,计算Rout = Vx / Ix。这个值就是输出端看到的等效电阻。
为什么要加测试源,而不是直接看电路里有哪些电阻并联?因为有些电阻受受控源影响,像源极退化后的输出阻抗,就不能简单从静态电阻角度看。用小信号测试源去“推”输出节点,所有受控源都会在等式里自动体现,不容易漏项。
3.2 并联还是串联,判断标准很简单
判断一个电阻是不是和输出端并联,只需要问一个问题:它是不是一端接在输出节点,另一端接到交流地?
如果答案是肯定的,它就是并联支路。例如:
- 从漏极接 VDD 的电阻 RD,VDD 是小信号地,所以 RD 和输出节点并联。
- 输入管的 ro,源极交流接地,所以 ro 是从漏极到交流地的一条支路,并联。
- 恒流源负载的 ro,源极接 VDD,VDD 交流接地,也并联。
如果电阻不是直接接到交流地,而是串在源极和地之间,比如源极退化电阻 RS,那它就不在输出节点的并联清单里。它会进入管子的内部反馈回路,把管子的等效输出阻抗抬高,形式变成 ro + RS + gm × ro × RS,约等于 (1 + gm × RS) × ro。
这个区别是手算分水岭。直接把 RS 并到输出节点,结果一定错;只有先算完“带源极退化的等效输出阻抗”,再和外部负载并联,才是正确路径。
3.3 一个防止漏项的检查清单
我每次找 Rout 前,会在心里过一遍这几个问题:
- 输出节点到底是漏极还是源极?方向写错,符号和增益都会错。
- 输入小信号源真的置零了吗?如果输入源有内阻,增益会受分压影响。
- 输入管的源极是否交流接地?如果没有,gmb 有没有考虑?
- 负载到底是电阻、恒流源、二极管连接,还是下一级输入阻抗?不同负载的等效电阻完全不同。
- 最后问一句:Rout 和 ro 是什么数量级关系?如果外部负载远小于 ro,增益主要由外部负载决定,ro 可以暂时忽略;如果两者接近,必须保留。
这套检查顺序能做两件事:一是防止漏项,二是让你在仿真对不上时,快速定位是模型问题、偏置问题还是公式问题。