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那根细金属丝是有电流上限，但更多的是半导体的载流子浓度是有限的，到达饱和电流后，电流不会上升，多多少电压就多多少热量。积热到PN结那里相界面融成一体的时候，就不再有发光的PN结了。

01【LED烧毁过程】

一、LED过流

我们看到一个视频，在介绍LED灯过流下烧坏的过程。 其中显示当电流过大LED灯瞬间被烧毁， 其中连接正极与负极之间的金属丝被烧断。 这种情况说实在的，在我所看到的情况并不多见。 往往我们看到的LED灯被烧坏， 大多数是它内部芯片过流之后被烧毁。 不过是否过流在没有烧坏LED之前， 它的灯丝被烧熔断了。 下面我们也可以将手边的几个常见的LED灯测试一下， 看是否能够通过过流， 在它内部拼接没烧毁之前，把它的灯丝熔断。

二、测试结果

我们所使用的测试方法， 就是利用刚才制作的基于IGBT的脉冲放电电路。 它外部有一个1000微法可以耐压500伏的CBB电容， 通过IGBT可以用于它进行瞬间放电。 我们将待测的LED连接在放电回路中， 看是否能够将LED中间的连接金属丝烧坏， 我们使用的电压现在设置为60伏， 瞬间对待测LED进行放电。 下面我们查看一下放电之后LED是否还能工作，如果损毁，查看一下它内部损坏的情况。

我们可以看到，在瞬间放电过程中LED亮了一下。 它原本是蓝色的LED， 在亮的时候它呈现白色光芒，瞬间就断开了， 再次进行放电，储能电容的电压就没有再下降， 这说明LED的确被烧断了。 我们观察LED内部情况， 这是两个被刚才实验中烧坏的LED内部芯片呈现黑色。 但是我们可以看到其中的金属引线似乎还存在，并没有被烧断。 正常的LED它内部是白色的光芒被烧坏的似乎是芯片， 这是我们看到两个被烧坏的LED内部情况呈现黑色。

接下来我们更换一个比较大的红外LED， 它体积比较大，所以我们能看清内部的金属引线的情况。 现在在没有测试之前， 进入引线从正极引到负极， 能够清晰地看到这根引线连接LED灯芯的情况， 下面我们对它施加高电压脉冲电流， 也就是通过一个1000微法上充60伏的电压， 瞬间对它进行放电，我们可以看到在放电过程中， 它内部有白光微弱地闪烁了一下。 可以验证此时它已经被烧断。 我们再次观察它内部的情况， 可以看到引线被烧没了， 也就是瞬间大电流的确可以蒸发它对应的引线， 在它内部引线的位置出现了雾状的情况， 也许是引线烧断时对包裹的树脂进行了气化，形成气泡。

接下来我们再测试这样一个1.5伏的小灯珠， 它内部是钨丝，在电流情况下， 它通过发热，然后发光。我们查看一下充有60伏1000微伏的电容对它放电所产生的情况。 下面我们进行测试，可以看到在放电瞬间， 小灯珠发出强烈的白炽光，然后熄灭。 再仔细看到内部的钨丝已经被瞬间大电流烧断， 蒸发的金属钨，使得灯珠内部出现了黑色的杂质。

※总结 ※

本文测试了大电流对小灯珠的冲击情况， 对于普通的钨丝灯， 大电流会瞬间将其内部的钨丝烧断。 但对于普通的LED灯， 大电流作用下，有的会烧坏其内部的拼接灯芯， 也有的会烧断它内部的引线。 由此我们可以看到，烧坏LED的机制， 对于不同的LED是不同的。

■ 相关文献链接:

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● 相关图表链接:

• 图1.1.1 LED过流过程