【SI_抖动】快速掌握高速串行信号抖动测试原理
2026/6/6 12:44:36 网站建设 项目流程

目录

1. 抖动概述

2. 抖动的分类

2.1. 随机性抖动

2.2. 确定性抖动

2.3. 总抖动

2.3.1. 双狄拉克(Dual-Dirac)模型

2.3.2. 眼图张开度和误码率

2.3.3. 浴盆曲线

2.3.4.误码率下总体抖动估算

3. 抖动测试步骤

1. 抖动概述

抖动(Jitter)是信号的某特定时刻相对于理想时刻的短时间偏移。这是抖动的多种定义之一,其中相邻两个理想参考边沿之间的时间间隔叫做单位间隔(Unit Interval,UI)。抖动一般通过时间间隔误差(Time Interval Error,TIE)来测量,TIE测量的是时间信号边沿和理想信号边沿的时间间隔,理想信号是通过时钟恢复得到的信号。

  • 单位间隔UI

相邻理想时钟边沿的标称时间宽度:UI=1/fbit
fbit:比特速率,UI是高速串行抖动度量基准,抖动常用**%UI、ps**标注。

  • 抖动Jitter

信号实际跳变边沿,短时间偏离理想边沿位置的瞬时时序偏移;只针对边沿时刻偏移,不含电平幅度变化。

  • 时间间隔误差TIE

TIE(n)=treal(n)-tideal(n)
- treal:信号实际边沿时刻
​- tideal:CDR时钟恢复输出的理想参考边沿时刻


TIE是抖动最原始采样数据,所有抖动参数(RJ/DJ/TJ)都由TIE序列计算得出。

抖动是大多数通信链路中一种显著且不受欢迎的现象,可以使用与所有时变信号相同的术语来量化,例如均方根(RMS)或峰峰值位移(Peak-to-Peak)。通常,抖动被认为是一种高频现象。

2. 抖动的分类

抖动有两种主要类型:确定性抖动和随机性抖动。

  • 确定性抖动是由可识别的干扰信号造成的,这种抖动通常幅度有限,具备特定的(而非随机的)产生原因,而且不能进行统计分析;
  • 随机抖动是指由较难预测的因素导致的时序变化。例如,能够影响半导体晶体材料迁移率的温度因素,就可能造成载子流的随机变化。另外,半导体加工工艺的变化,例如掺杂密度不均,也可能造成抖动;

2.1. 随机性抖动

  • 成因:由热噪声、散粒噪声等物理随机过程引起,服从高斯分布,无界且不可预测;
  • 表现:眼图水平张开度均匀模糊,边缘呈高斯拖尾,无法通过均衡完全消除。

2.2. 确定性抖动

明显的确定性抖动(DJ)时,双峰分布,其直方图中心并非单一位置,而是围绕两个独立峰值展开,这是因为在该示例中注入了周期性抖动。

  • 成因:由确定性因素导致,有界且可重复,可进一步细分为:

1. 码间干扰抖动(ISIJitter):数据码型相关性抖动,前一码元的残留影响当前码元过零点,常见于传输线损耗、阻抗不匹配等情况;

2. 占空比失真抖动(DCDJitter):时钟或数据的高低电平宽度不对称,导致过零点偏移,可能由驱动器输出阻抗不对称、偏置电压偏移等引起;

3. 周期性抖动(PJJitter):抖动幅度随固定频率周期性变化,常与时钟谐波或电源纹波同步,如电源噪声、串扰等干扰源。表现:眼图交点或边缘出现固定偏移或离散“台阶”,抖动范围有明确上限。

2.3. 总抖动

  • 成因:随机抖动与确定性抖动的叠加,是系统实际承受的总抖动量;
  • 表现:眼图水平张开度最小,反映系统最坏情况下的时序容限,计算公式为TJ=RJ+DJp−p(在特定误码率下);

2.3.1. 双狄拉克(Dual-Dirac)模型

总抖动TJ原理详解:总抖动 TJ = DJ*RJ(卷积运算)

2.3.2. 眼图张开度和误码率

从抖动概率密度→积分算误码率,是眼图BER浴盆曲线的理论来源,也是EZJIT软件计算误码、外推眼高的底层公式。

右侧(1UI)跳变的边沿,因为抖动往左偏移到采样点τ左侧,接收器把右边跳变错判成左边电平,产生误码;

左侧(0UI)跳变的边沿,因为抖动往右偏移到采样点τ右侧,接收器把左边跳变错判成右边电平,产生误码;

总误码TBER:TBER=LBER+RBER,同一采样位置下,左右两种错误概率相加,得到该取样点整体误码率;

参数含义
τ接收器采样时刻(眼图横轴取样位置)
W确定性抖动 DJ 峰峰值(双狄拉克间距)
σ随机抖动 RJ 有效值(高斯分布标准差)
TD码元跳变密度(高速串行一般 = 0.5,交替码 1/0 跳变占比)
蓝色曲线JT(τ,W,σ)左沿跳变的抖动 PDF(0UI 位置边沿分布)
红色曲线JT(τ−UI,W,σ)右沿跳变的抖动 PDF(右移 1UI,1UI 位置边沿分布)

2.3.3. 浴盆曲线

  • 浴盆中部(谷底区域)→由RJ主导:浴盆曲线中间平坦段(采样位置329~612附近),BER随采样位置变化缓慢,形态由RJ高斯分布决定:RJ是无界高斯噪声,决定曲线中间下降斜率;RJ越大,中间区域BER抬升、浴盆谷底变窄、有效眼宽收缩;

  • 浴盆两侧(靠近眼交叉点/边沿区)→由DJ主导,曲线左右快速抬升段靠近眼图交叉位置,由DJ(含DCD、ISI、PJ等确定性分量)决定:DJ为固定峰峰值偏移,直接拉开浴盆曲线左右起始位置;Jpp^{DJ}越大,浴盆左右拐点越向中间收拢,基线误码整体抬高;

  • 固定BER下DJ+RJ共同决定眼张开度,以行业标准BER=10^(-12);DJ限定浴盆左右边界的最小间距基础;RJ使曲线从DJ边界向中心持续抬升;两者叠加后,10^(-12)横线与浴盆交点的横向间距 = 有效眼张开宽度;DJ/RJ任一变大,交点内缩、眼张开度变小;

标识定义
确定性抖动 DJ 峰峰值(有界、固定边沿偏移)
随机抖动 RJ 有效值(高斯无边界噪声)
横轴采样位置(单位 ps/UI,总跨度 0~941)
纵轴误码率 BER(对数坐标,~)
分区SINUSOIDAL (周期性 PJ)、DETERMINISTIC (DJ)、RANDOM (RJ)

2.3.4.误码率下总体抖动估算

1. 随机抖动 RJ 峰值换算

行业标配:BER=10−12时,n=14(单边 7σ,左右合计 14σ),即

2. 总抖动 TJ(双狄拉克经典公式)

  • 偏移N·σ → 对应BER(单侧)
偏移单侧误码率 BER
±7σ(14σ 总跨度对应10−12)1.28×10−12
±5σ2.87×10−7
  • 目标BER→换算系数n(缩放因子)
目标 BER缩放系数 n
1×10−1214.069≈14(工程取整 14)
1×10−911.996≈12

3. 示波器短时间采集眼图,拆分DJPP​、RJrms​(σ),不用长时间实测10−12BER,通过公式外推极限总抖动TJ@10−12。

4. 不同BER对应RJ缩放系数n速查表(双狄拉克模型,TJ=DJpp+n*σ

目标 BER(全链路总误码)单边 Q 系数原厂精确 n 值工程近似取值备注
1×10−33.0906.1806.2低速总线 / 粗略评估
1×10−43.7197.4387.44
1×10−54.1968.3928.4
1×10−64.5359.0709.1
1×10−74.8009.6009.6
1×10−85.01210.02410.0
1×10−95.99811.99612常用:HDMI、部分 USB2.0 严苛规格
1×10−106.36212.72412.7
1×10−116.70613.41213.4
1×10−127.034514.06914PCIe3/4/5.0、USB3.x、SATA行业标准
1×10−137.34914.69814.7
1×10−147.65015.30015.3
1×10−157.94115.88215.9高速 Serdes / 光纤通信低 BER 规格

3. 抖动测试步骤

1. 在示波器顶部菜单栏点开 Analyze(分析) ;

2. 下拉菜单选择红圈标注: RTEye/Clock Recovery(SDA)… ,即可弹出SDA配置弹窗,进入串行测试配置界面;

3.从示波器顶部菜单 Analyze → Measurement Analysis(EZJIT) 打开左侧配置界面;

4. 点击Setup Wizard后弹出向导首页,页面为功能说明:向导将自动完成速率、阈值、分析项全流程配置;

5. 进行抖动测试时,通常优化示波器的基本设置,以优化抖动新能,如:最大采样率,关闭平均功能,关闭电压类自动测量;

6. 在 Select Measurement to Analyze 下拉框,点开箭头,直接选中已添加的抖动测试项;当前默认 None 代表无测试项目被选定;

测量项测试用途
Data TIE串行数据整体时序抖动(主流)
Period Jitter时钟周期抖动
Pulse Width占空比失真DCD

7. Add Measurement:1. 信号输入通道(Source),时钟恢复配置(Clock Recovery),TIE Filter滤波器,测量单位(Units),阈值电平(Thresholds)等;

8. 设置抖动直方图;

9. 设置抖动趋势图;

10. 设置抖动频谱图;

11. 设置完成;

12. 抖动测试结果显示;

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